美國穩(wěn)科磁性元件分析儀WK3260B SERIES產(chǎn)品描述
? 頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
? 0.1% 基本量測**度
? DC Bias(直流偏壓) *高可到125A(Option)
? 內(nèi)建1Amp DC Bias
? 多頻率自動測試模式
? 多點DC Bias掃頻功能
? 可直接畫出加上Bias時各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
? 可接Mesco view, Factory view軟件
? 涵蓋各式測量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質(zhì)量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
可透過IEEE488連線控制
美國穩(wěn)科磁性元件分析儀WK3260B SERIES產(chǎn)品參數(shù)
量測參數(shù)
|
L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle
|
頻率范圍
|
20 Hz to 3 MHz Option
|
頻率波段
|
>1000
|
量測電壓/電流
|
1 mV to 10 V
50 uA to 200 mA
|
內(nèi)建式直流偏壓電流
|
1 mA to 1 A
|
絕緣測試(選購)
|
100 V, 200 V, 500 V
|
量測速度
|
4 off (25/sec max)
|
量測范圍
|
R 0.01 mOhm to > 2 GOhms
L 0.1 nH to >1000H
C 5 fF to > 1 F
|
基本量測速度
|
L/Rac/Z/Cp ±0.25%
Q ±0.25 (Q+1/Q)%
D ±.0025 (1+ D2)
Turns ratio ±0.25%
Rdc ±0.5%
|
使用電源
|
230 V AC ±10%
115 V AC ±10%
|
頻率
|
50 to 400Hz
|
耗電量
|
400VA maximum
|
顯示屏
|
高亮度 LCD
|
測試接點
|
BNC 接頭 X 8
|
測試線
|
2線式 or 4線式(Kelvin)
|
